リテールテックJAPANに出展

株式会社SCIENは、東京ビッグサイトにて開催された「リテールテックJAPAN」に出展いたしましたのでお知らせいたします。

出展概要

スタートアップ支援企業の森創とのコラボレーションにより、AIを活用した検査システムを展示いたしました。

従来は時間のかかっていた「全数検査」の工程を効率化するシステムで、以下の特長があります。

• 統一された撮像環境による安定した品質管理
• 6言語対応で属人化を排除
• AIによる判定で新入社員・外国人労働者でも容易に操作可能

ご来場いただいた皆様に、心より御礼申し上げます。

イベント概要

• イベント名： リテールテックJAPAN
• 会場： 東京ビッグサイト
• 主催： 日経メッセ
• 内容： POS・キャッシュレス・データ活用・IoTデバイス・デジタルマーケティングなど流通DXのソリューションが集結
• 公式サイト： https://messe.nikkei.co.jp/rs/